《特長》
・新開発の鏡面ハイブリットセンサにより湿度変化に対する高応答性。高追従性を実現。
・露点±0.15℃dp、温度±0.1℃の高精度計測。
・広範囲露点測定−40〜＋120℃dp。
従来、複数の鏡面冷却式露点計が必要だった範囲をMulti Dew1台で測定できます。
・SDカードによるロギング機能標準
・柔軟なインターフェースに対応し、
アナログ出力はもちろんRS485、イーサネットインターフェース標準装備。

露点測定精度：±0.15°Cdp
繰り返し性 ：±0.05°Cdp
露点測定範囲：標準センサ −40〜＋90°Cdp / 高温センサ −40〜+120°Cdp
相対湿度範囲：0.45〜100%rh

【長期の精度維持を実現する二つの機能】

・ダイナミック汚染補正機能（DCC：Dynamic Contamination Correction）
鏡面を含む光学回路上の汚染物質混入により発生する測定精度の劣化（光源輝度の減少による光学バランス崩れ）を防ぐために、光源バランスの再補正を定期的に実施するプログラムが用意されています。DCCは常に最適な測定が実施できるように直接的にシステム制御に関与し、鏡面に付着した粒子状汚染物質に起因するあらゆる誤差を自動的に除去します。

・過冷却状態除去機能（FASTテクノロジー）
今までの鏡面冷却式露点計の最大誤差要因として過冷却状態が挙げられます。0℃以下の露点測定では鏡面上の水の状態が過冷却現象により、霜にならない場合があります。
これにより露と霜の状態の飽和水蒸気圧の違いから、約10％の測定誤差発生の可能性があります。FASTテクノロジー機能では強制的に鏡面表面をアイス状態にする制御を自動的に実施しています。